Обозначение: | ГОСТ 18986.20-77 |
Статус: | действующий |
Название рус.: | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим |
Название англ.: | Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time |
Дата актуализации текста: | 07.11.2012 |
Дата актуализации описания: | 07.11.2012 |
Дата введения в действие: | 01.01.1979 |
Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности |
Список изменений: | №0 от 01.10.2005 (рег. 01.10.2005) «Дата введения перенесена» №1 от 01.03.1987 (рег. 04.11.1986) «Срок действия продлен» |
Приложение №1: | Поправка к ГОСТ 18986.20-77 |
Расположен в: |
|
Поправка к ГОСТ 18986.20-77
Обозначение: | Поправка к ГОСТ 18986.20-77 |
Дата введения в действие: | 01.10.2005 |
Дата актуализации: | 15.01.2008 |