| Обозначение: | ГОСТ 26222-86 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров |
| Название англ.: | Ionizing-radiation semiconductor detectors. Methods of parameters measurement |
| Дата актуализации текста: | 07.11.2012 |
| Дата актуализации описания: | 07.11.2012 |
| Дата введения в действие: | 01.07.1987 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы ионизирующих излучений (ППД) и устанавливает методы измерения их электрических и радиометрических параметров: темнового тока; емкости (гармонический и зарядовый методы); энергетического разрешения; энергетического эквивалента шума (метод непосредственного измерения и спектрометрический метод); энергетического эквивалента толщины метрвого слоя; дискретной чувствительности регистрации; средней частоты следования фоновых импульсов; радиационной помехоустойчивости; аналоговой чувствительности регистарции (статический и импульсный методы); времени нарастания сигнала; длительсности фронта нарастания сигнала. Стандарт не распространяется на ППД, изготавливаемые по ГОСТ 18398-81, а также на запоминающие ППД |
| Взамен: | ГОСТ 17619-72 ГОСТ 26222-84 |
| Расположен в: |
|
