| Обозначение: | ГОСТ 26239.5-84 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей |
| Название англ.: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
| Дата актуализации текста: | 07.11.2012 |
| Дата актуализации описания: | 07.11.2012 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце. Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: |
|
