|
| Обозначение: |
ГОСТ 4.64-80 |
|
| Статус: |
действующий |
|
| Название рус.: |
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
|
| Название англ.: |
Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
|
| Дата актуализации текста: |
07.11.2012 |
|
| Дата актуализации описания: |
07.11.2012 |
|
| Дата введения в действие: |
01.07.1981 |
|
| Область и условия применения: |
Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
|
| Список изменений: |
№1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен» |
|
| Расположен в: |
- ОКС Общероссийский классификатор стандартов
- 03 УСЛУГИ. ОРГАНИЗАЦИЯ ФИРМ, УПРАВЛЕНИЕ И КАЧЕСТВО. АДМИНИСТРАЦИЯ. ТРАНСПОРТ. СОЦИОЛОГИЯ.
- 29 ЭЛЕКТРОТЕХНИКА
- 29.045 Полупроводниковые материалы
- КГС Классификатор государственных стандартов
- Т Общетехнические и организационно-методические стандарты
- Т5 Система документации
- Т51 Система документации, определяющая показатели качества, надежности и долговечности продукции
- Тематические сборники
- СПКП Система показателей качества продукции.
- ОКП
- 170000 МЕТАЛЛЫ ЦВЕТНЫЕ, ИХ СЫРЬЕ, СПЛАВЫ И СОЕДИНЕНИЯ
- 177000 МАТЕРИАЛЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
|
|
Понравилась статья? Поделиться с друзьями: